Warning: mkdir(): No space left on device in /www/wwwroot/new9.com/func.php on line 127

Warning: file_put_contents(./cachefile_yuan/guqiao-china.com/cache/6f/00750/c54d4.html): failed to open stream: No such file or directory in /www/wwwroot/new9.com/func.php on line 115
AFM-SEM 同步聯用技術(通用版)LiteScope-午夜国产视频科學儀器(上海)有限公司



        午夜国产视频,午夜视频黄色,午夜商店APP下载18,午夜福利小视频在线观看

        熱門搜索:掃描電鏡,午夜视频黄色,細胞成像分析
        產品展示 / products 您的位置:網站首頁 > 產品展示 > > 飛納電鏡 > LiteScopeAFM-SEM 同步聯用技術(通用版)
        AFM-SEM 同步聯用技術(通用版)

        AFM-SEM 同步聯用技術(通用版)

        簡要描述:AFM-SEM 同步聯用技術(通用版)SEM 與 AFM 是亞納米級樣品分析中應用廣泛且互補的兩大技術。將 AFM 集成至 SEM 中可融合兩者的優勢,實現超高效工作流程,
        完成傳統 AFM 和 SEM 難以或無法實現的極限性能和複雜樣品分析。

        產品型號: LiteScope

        所屬分類:飛納電鏡

        更新時間:2025-05-27

        廠商性質:其他

        詳情介紹
        品牌Phenom 飛納電鏡產地進口
        產品新舊全新分辨率0.2 nm x 0.2 nm x 0.04 nm

        AFM-SEM 同步聯用技術(通用版)    

        產品簡介    

        革命性的原子力顯微鏡(AFM),可實現與掃描午夜视频黄色(SEM)的無縫集成,為原位關聯顯微鏡開辟新可能。

        憑借優化設計,LiteScope AFM 兼容賽默飛世爾、TESCAN、蔡司、日立、JEOL 等主流品牌 SEM 係統及其配件,其他品牌電鏡亦可定製適配。

         

        測量模式:

        • 機械性能:AFM,能量耗散,相位成像

        • 電性能:C-AFM、KPFM、EFM、STM

        • 磁性能:MFM

        • 電機械性:PFM

        • 光譜學:F-z

         曲線,I-V 曲線

        • 相關性分析:CPEM    


           

        AFM-SEM 同步聯用技術(通用版)    

        實用特點    

        • 原位樣品表征

        在 SEM 內部的原位條件下確保樣品分析同時、同地、同條件下進行,並且在飛納電鏡內部也能實現原子級分辨率    

        • 精確定位感興趣區域                

          SEM 與 AFM 原位聯用,保證了同一時間、同一地點和相同條件下的分析 使用 SEM 畫麵,實時觀測探針與樣品的相對位置,為探針提供導航,精準定位            

        • 實現複雜的樣品分析需求

          提供電氣、磁學、光譜等多種測量模式,且能同一位置直接聯用 SEM 及 EDS 功能。同時獲取 AFM 與 SEM 數據,並將其無縫關聯            


           


           

        應用案例

        鋼和合金的複合分析    

        利用原子力顯微鏡對雙相鋼進行複合分析,揭示了表麵形貌(AFM)、鐵 氧體晶粒的磁疇結構(MFM)、晶粒相比(SEM)和表麵電位雜質開爾文 探針力顯微分析法。 • 相關多模態分析揭示了複雜的性質 • 掃描電鏡精確定位 ROI,AFM 綜合分析    


           

        電池的原位表征    

        固態電池(SSB)比鋰離子電池顯示出更高的能量密度、更長的壽命和更 好的安全性。由鋰鎳錳鈷氧化物(NMC)顆粒組成的正極膠帶在手套箱中 經過 200 個周期後被打開,原位切割並使用 AFM-in-SEM 測量。    

         樣品提供: Aleksandr Kondrakov, BELLA (DEU)    

        • 在 CAM 橫截麵處對局部電導率(C-AFM)進行表征    

        • 無需空氣暴露即可原位製備敏感 CAM    

           


           

        納米線的先進表征    

        懸掛蜘蛛絲納米線因其機械性能而被研究,通過超精確定位AFM 尖在懸掛的納米線上。力-距離光譜學使得確定納米線的彈性和塑性 變形成為可能。    

        樣品提供: Linnea Gustafsson, KTH (SWE)    

        • SEM: 精確定位 AFM 尖和納米線變形的實時觀察    

        • 分析屬性如楊氏模量和抗拉強度    


           

           


           


           

        選配件    

        納米壓痕模塊    

        納米壓痕模塊能夠在使用超高倍數掃描午夜视频黄色觀察樣品的同時進 行微機械實驗,並利用 LiteScope 以亞納米級分辨率對壓痕樣品進行 分析    

           

        NenoCase 與數碼相機    

        在環境條件或不同氣氛下將 LiteScope 作為獨立 AFM 使用,通過數碼 相機精確導航探針。    

           

        樣品旋轉模塊    

        適用於 FIB 後進行 AFM 分析。此外還允許同時安裝多個樣品實現在不 打開 SEM 腔室的情況下即可對多個樣品進行測試。    

           


           


           



        留言詢價

        留言框

        • 產品:

        • 您的單位:

        • 您的姓名:

        • 聯係電話:

        • 常用郵箱:

        • 省份:

        • 詳細地址:

        • 補充說明:

        • 驗證碼:

          請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7
        • 聯係電話電話4008578882
        • 傳真傳真
        • 郵箱郵箱cici.yang@phenom-china.com
        • 地址公司地址上海市閔行區虹橋鎮申濱路88號上海虹橋麗寶廣場T5,705室
        © 2025 版權所有:午夜国产视频科學儀器(上海)有限公司   備案號:滬ICP備12015467號-5   sitemap.xml   管理登陸   技術支持:製藥網       
        • 公眾號二維碼




        網站地圖